完全最新设计的X-50是市场上表现**的XRF，具有经典小⾯积SDD探测器技术。它为该检测器平台提供了**的分析性能和速度，运行速度为其他品牌的2倍或更高。需要对合金(包括普通铝)进行优化分析 SciAps强大的小型化x射线管结合高度先进的内部几何结构，可以快速、精确地得到Ti和Bi之间一系列过渡元素和重金属元素的结果。

    重塑经典：X-50利用经典的“久经考验”小⾯积SDD技术及x射线为过渡和重金属的**的基础分析。 对于那些不需要测量Mg, Al, Si, S或P的公司，SciAps X-50是完美的选择。 我们重新设计了这一经典的探测器技术，并为其配备了更多的功能:内置高分辨率摄像机，用于查看样品，如焊缝; 用于照片记录或2D/3D条形码读取和存储的宏观相机; 以及在熟悉的Android平台上使用蓝牙/Wi-Fi即时共享结果的全球连接。

     标准元素包：X-50包括先进的X光管技术与其他SciAps X系列型号(在40kV max)进行检测,包括Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu,Zn, W, Ta, Hf, Re, Se, Au, Pb, Bi, Zr, Mo, Pd, Ag,Cd, Sn, Sb, Y, Nb, Ru, As。可以根据要求添加更多的元Android素。完整的样品结果展示不到一秒。

       Android与数据管理：使用Android操作系统，感觉就像智能手机。使用蓝牙/Wi-Fi和USB，用户可以打印、发送电子邮件，并连接到几乎任何信息系统以获取实时数据。内嵌微距相机允许获取照片文档，蓝牙标签打印机提供即时硬拷贝标签。使用SciAps测试站在台式模式下分析小块样品。 具有一个联锁的盖子为您的保护和超级稳定的平台基础，以保持样品的位置正确。